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BX-G104納米光伏專用激光橢偏儀針對(duì)光伏太陽能電池高-端研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的專用型多入射角激光橢偏儀。BX-G104用于測(cè)量絨面單晶硅或多晶硅太陽電池表面減反膜鍍層的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可測(cè)量光滑平面材料上的單層或多層納米薄膜的膜層厚度，以及在632.8nm下折射率n和消光系數(shù)k。
更新時(shí)間：2025-10-25
產(chǎn)品型號(hào)：BX-G104
瀏覽量：3050
BX-G103激光橢偏儀 多入射角測(cè)量儀是針對(duì)高-端研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的極-致型多入射角激光橢偏儀。 BX-G103系列可在單入射角度或多入射角度下對(duì)樣品進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量。可用于測(cè)量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數(shù)k；也可用于同時(shí)測(cè)量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k；亦可用于實(shí)時(shí)測(cè)量納米薄膜動(dòng)態(tài)生長中膜層的厚度、折射率n和消光系數(shù)k。多入射角度設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了納米薄膜的絕對(duì)厚度測(cè)量。
更新時(shí)間：2025-10-25產(chǎn)品型號(hào)：BX-G103瀏覽量：2759
BX-G10紫外廣義光譜橢偏儀針對(duì)科研和工業(yè)環(huán)境推出的高精度快速攝譜型廣義光譜橢偏儀，波長范圍覆蓋紫外、可見到紅外。 廣義光譜橢偏儀采用寬帶超消色差補(bǔ)償器、利用步進(jìn)補(bǔ)償器掃描測(cè)量采樣模式、基于高靈敏度探測(cè)單元和光譜橢偏儀分析軟件，用于測(cè)量納米薄膜樣品、塊狀材料和各向異性材料。
更新時(shí)間：2025-10-25產(chǎn)品型號(hào)：BX-G102瀏覽量：2604
BX-G101高精度靈敏光譜橢偏儀針對(duì)科研和工業(yè)環(huán)境中薄膜測(cè)量推出的高精度快速攝譜型光譜橢偏儀，波長范圍覆蓋紫外、可見到紅外。 光譜橢偏儀基于高靈敏度光譜探測(cè)單元和光譜橢偏儀分析軟件，用于測(cè)量單層和多層納米薄膜的層構(gòu)參數(shù)（如，厚度）和物理參數(shù)（如，折射率n、消光系數(shù)k，或介電函數(shù)ε1和ε2），也可用于測(cè)量塊狀材料的光學(xué)性質(zhì)。
更新時(shí)間：2025-10-25產(chǎn)品型號(hào)：BX-G101瀏覽量：3208
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